NEC全新熱傳感器可給數據中心降溫
在2008年6月18～20日于美國夏威夷舉行的“2008年超大規模集成電路技術討論會（2008SymposiumonVLSICircuits）”上，NEC公司宣布研發出了一種基于片上的溫度傳感器技術，可以通過一種設備使熱度的分布水平“可視化”，從而降低電力消耗。這意味著NEC公司在數據中心及相關環境應用方面取得了突破。
據NEC介紹，這款傳感器的尺寸只有市面上原先產品的1/10，可以集成到大規模集成電路設備里。它可以把溫度的變化轉換成數字信號，實時地將大規模集成電路設備的熱度分布“可視化”。
這項技術將會使有益于時鐘頻率、數據處理速度及電壓水平的發展朝著更好的方向發展，NEC中央研究院設備平臺研究室的高級經理MasayukiMizuno說，它能使大規模集成電路設備的電力消耗降低20%～50%，片上的傳感器之前已經在NEC的SX-9超級計算機里演示過了，有10個溫度傳感器集成在SX-9的一個CPU里，該處理器的尺寸是19.84×21.04mm，每個溫度傳感器的尺寸則為35×35µm。他認為，因此通過持續不斷地實時監控，可以調節數據中心的溫度，從而降低整體的電力消耗。NEC的熱傳感器還可以用于消費類產品、交通工具、網絡及服務器。
NEC發明的這項技術似乎是世界上熱傳感器或溫度傳感器方面的重大突破。NEC稱，傳統的基于二極管的熱傳感器“體積太大且很笨重”，很難在芯片上裝備很多熱傳感器，從而阻礙芯片管理溫度的能力。而NEC的熱傳感器技術并非基于二級管的解決方案，而是使用了多項技術，其中包括電流型模——數轉換器和擁有單一測量功能的溫度檢驗單元。順理成章，這還可以發現和監測大規模集成電路設計中的另一項重要問題——漏電流，漏電流導致晶體管和連線的壽命大約降低50%。
據NEC稱，這項技術的關鍵之一是在將設備里的溫度分布情況“可視化”，“為了控制熱度，會從大規模集成電路芯片的特殊區域進行獨立的本地的測量，這樣就會使任務在芯片上幾乎不活躍的地區進行，從而減少用于運行所要求的電量，并且減輕了環境的影響。最新的熱傳感器可以通過以小規模的可以將漏電流轉換成數字信號的轉換電路，來測量晶體管的漏電流，從而計算出溫度”
一項換算公式被發明出來測量一個活躍的大規模集成電路的漏電流的量，并將其轉換成溫度。，溫度計算上的錯誤可以通過新技術來校正，這項技術需要測量每個熱傳感器在室溫時的漏電流。
“最新傳感器已經取得了極大的改進，其準確率在3攝氏度以內，”NEC的發言人稱。
據NEC介紹，這款傳感器的尺寸只有市面上原先產品的1/10，可以集成到大規模集成電路設備里。它可以把溫度的變化轉換成數字信號，實時地將大規模集成電路設備的熱度分布“可視化”。
這項技術將會使有益于時鐘頻率、數據處理速度及電壓水平的發展朝著更好的方向發展，NEC中央研究院設備平臺研究室的高級經理MasayukiMizuno說，它能使大規模集成電路設備的電力消耗降低20%～50%，片上的傳感器之前已經在NEC的SX-9超級計算機里演示過了，有10個溫度傳感器集成在SX-9的一個CPU里，該處理器的尺寸是19.84×21.04mm，每個溫度傳感器的尺寸則為35×35µm。他認為，因此通過持續不斷地實時監控，可以調節數據中心的溫度，從而降低整體的電力消耗。NEC的熱傳感器還可以用于消費類產品、交通工具、網絡及服務器。
NEC發明的這項技術似乎是世界上熱傳感器或溫度傳感器方面的重大突破。NEC稱，傳統的基于二極管的熱傳感器“體積太大且很笨重”，很難在芯片上裝備很多熱傳感器，從而阻礙芯片管理溫度的能力。而NEC的熱傳感器技術并非基于二級管的解決方案，而是使用了多項技術，其中包括電流型模——數轉換器和擁有單一測量功能的溫度檢驗單元。順理成章，這還可以發現和監測大規模集成電路設計中的另一項重要問題——漏電流，漏電流導致晶體管和連線的壽命大約降低50%。
據NEC稱，這項技術的關鍵之一是在將設備里的溫度分布情況“可視化”，“為了控制熱度，會從大規模集成電路芯片的特殊區域進行獨立的本地的測量，這樣就會使任務在芯片上幾乎不活躍的地區進行，從而減少用于運行所要求的電量，并且減輕了環境的影響。最新的熱傳感器可以通過以小規模的可以將漏電流轉換成數字信號的轉換電路，來測量晶體管的漏電流，從而計算出溫度”
一項換算公式被發明出來測量一個活躍的大規模集成電路的漏電流的量，并將其轉換成溫度。，溫度計算上的錯誤可以通過新技術來校正，這項技術需要測量每個熱傳感器在室溫時的漏電流。
“最新傳感器已經取得了極大的改進，其準確率在3攝氏度以內，”NEC的發言人稱。
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