生產(chǎn)線自動化淺析

產(chǎn)品的品質(zhì)保證作為生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)越來越受到廠商的重視。根據(jù)machinist.in的一份最新報告，“Frost ＆ Sullivan公司預測，在未來五年，測試與測量設(shè)備市場的年均復合增長率（CAGR）將達到30%。”這表明，在市場需求的推動下，廠商對于測試與測量設(shè)備的投入將不斷增加。

由于被測試設(shè)備的復雜性越來越高，基于開放式架構(gòu)的自動測試系統(tǒng)變得越來越重要，該系統(tǒng)通過為工程師提供更多的靈活性與兼容性，滿足不斷變化的市場需求，縮短了產(chǎn)品的開發(fā)周期。區(qū)別于傳統(tǒng)的計算平臺，測試平臺需要針對不同的測試對象不斷調(diào)整，以滿足測試設(shè)備的需求。

以半導體自動測試設(shè)備（ATE）為例，不論在晶圓和封裝階段，利用多種儀器或數(shù)據(jù)采集卡測試內(nèi)存、數(shù)字量、混合信號及片上系統(tǒng)（SOC）組件的各種參數(shù)。在消費者、計算和通信市場需求的推動下，這些測試系統(tǒng)在不斷發(fā)展。在半導體行業(yè)若想不斷創(chuàng)新突破，ATE測試設(shè)備必須提供比以往更多的功能和更快的速度。

此外，一旦出現(xiàn)軟件支持問題或接口兼容受限，測試測量設(shè)備會很快被淘汰，當采集數(shù)據(jù)由一個模塊向另一個模塊轉(zhuǎn)移時，成本、軟件支持受限和編程等問題便至關(guān)重要。

鑒于以上因素，測試程序是否采用領(lǐng)先、可靠的系統(tǒng)和技術(shù)對于使用者至關(guān)重要。26年來，研華開發(fā)了高品質(zhì)的模擬量與數(shù)字量生產(chǎn)測試解決方案。今天，研華結(jié)合開放式架構(gòu)，采用可靠的硬件設(shè)計和堅固的平臺，為廠商和測試者提供了最先進的工業(yè)自動化產(chǎn)品和服務(wù)。