IC蝕刻字符的讀取案例
IC芯片一般被封裝成編帶的形式，這就使得在檢測上面蝕刻的字符時隔著一層透明的編帶，由于編帶的反光使得字符的讀取具有一定得難度。
在這個案例中我們采用了組合照明的方式，有效地消除了編帶的影響，并且Sherlock強大的字符讀取工具，使得低對比度的蝕刻字符業(yè)可以被準(zhǔn)確的讀取出來，對于裝反的IC芯片Sherlock具有360度讀取功能。
蝕刻較好的字符讀取
對比度較差的字符讀取
文章版權(quán)歸西部工控xbgk所有，未經(jīng)許可不得轉(zhuǎn)載。
上一篇：PCB板零件缺失及焊接短路檢測
下一篇：五金件的尺寸檢測方案
