1.測試目的
本測試為客戶指定要求的產品驗證測試，以確保產品的使用能滿足客戶的使用需求，并藉此提高公司產品可靠性。

2.測試項目

表 1 環境與結構測試項目

3.判定標準

產品在測試前、中、后的檢查中需保證無下列狀況

A 可見的硬件損壞如：管腳斷裂、線路腐蝕、零件破損腐蝕、外殼變形破裂；

B 產品或零件電氣性能下降，超過容差范圍；

C 系統和被存儲或交換的應用數據的非期望的修改；

D 產品指定需測試的的測試項目不符合規格，具體到本次測試為：CPU所有通訊以及IO錯誤；測溫模塊、模擬量模塊輸入以及數字量模塊輸出量值不準；各類指示燈顯示錯誤、以及其他功能應用錯誤。

4.測試樣品

7.測試內容：

1、PPI通訊：查看PC與CPU之間的通訊；

2、自由口通訊：監控214-1BE與200cpu之間的通訊；

3、數字量輸入輸出：214-1BE的輸出Q0.0~Q1.1依次與本機輸入I0.0~Q1.1相連，剩余的I1.2~I1.5與222-1HF的Q0.4~Q0.7相連；222-1HF的Q0.0~Q0.3則與200cpu的I0.0~I0.3相連。所有數字量輸出交替輸出0 1，周期為1S，通過PC監控所有相連的輸入輸出是否一致。

4、溫度模塊：231-7PC的四個輸入通道通過四線法分別接四個不同阻值的電阻，對應關系為：A-100Ω、B-150Ω、C-220Ω、D-250Ω，通過PC監控模塊的狀態表。

5、模擬量：231-0HC的每個輸入通道由實驗箱外的232-0HB提供電壓，其中AC通道輸入1V、BD輸入10V，通過PC監控每個通道的狀態值。

6、滿量程測試：所有實驗箱內模塊均通過調壓器供電，調節輸入電壓在20.4~28.8V之間變化，查看模塊在全量程內是否一直正常工作。

7、模擬定位器：每個測試周期內用螺絲刀旋轉模擬定位器，查看SB28與SB29是否能在0~255間變化；

8、CPU電壓輸出：214-1BE的24V輸出端引出兩根導線，測試過程中通過萬用表監控是否一致穩定輸出；

9、SF/DIAG/RUN/STOP指示燈：每隔１個小時通過程序設置這四個狀態，查看對應的指示燈是否能正常顯示。

10、其他輸入輸出指示燈：在測量數字量的過程中監控各個輸入輸出對應的LED指示燈。

11、撥碼開關：在測試開始于結束時，波動214-1BE的撥碼開關，查看RUN/STOP指示燈。

12、SDRAM、SRAM、EEPROM：在測試過程中使用程式監控。

7.測試結果簡敘

已測項目無失效。

8.測試順序

8.1.低溫運行

8.2.溫度沖擊

9.測試照片