合信PLC通過低溫測試
1.測試目的
本測試為客戶指定要求的產品驗證測試,以確保產品的使用能滿足客戶的使用需求,并藉此提高公司產品可靠性。
2.測試項目
表 1 環境與結構測試項目
3.判定標準
產品在測試前、中、后的檢查中需保證無下列狀況
A 可見的硬件損壞如:管腳斷裂、線路腐蝕、零件破損腐蝕、外殼變形破裂;
B 產品或零件電氣性能下降,超過容差范圍;
C 系統和被存儲或交換的應用數據的非期望的修改;
D 產品指定需測試的的測試項目不符合規格,具體到本次測試為:CPU所有通訊以及IO錯誤;測溫模塊、模擬量模塊輸入以及數字量模塊輸出量值不準;各類指示燈顯示錯誤、以及其他功能應用錯誤。
4.測試樣品
5.測試設備
6.電阻
7.測試內容:
1、PPI通訊:查看PC與CPU之間的通訊;
2、自由口通訊:監控214-1BE與200cpu之間的通訊;
3、數字量輸入輸出:214-1BE的輸出Q0.0~Q1.1依次與本機輸入I0.0~Q1.1相連,剩余的I1.2~I1.5與222-1HF的Q0.4~Q0.7相連;222-1HF的Q0.0~Q0.3則與200cpu的I0.0~I0.3相連。所有數字量輸出交替輸出0 1,周期為1S,通過PC監控所有相連的輸入輸出是否一致。
4、溫度模塊:231-7PC的四個輸入通道通過四線法分別接四個不同阻值的電阻,對應關系為:A-100Ω、B-150Ω、C-220Ω、D-250Ω,通過PC監控模塊的狀態表。
5、模擬量:231-0HC的每個輸入通道由實驗箱外的232-0HB提供電壓,其中AC通道輸入1V、BD輸入10V,通過PC監控每個通道的狀態值。
6、滿量程測試:所有實驗箱內模塊均通過調壓器供電,調節輸入電壓在20.4~28.8V之間變化,查看模塊在全量程內是否一直正常工作。
7、模擬定位器:每個測試周期內用螺絲刀旋轉模擬定位器,查看SB28與SB29是否能在0~255間變化;
8、CPU電壓輸出:214-1BE的24V輸出端引出兩根導線,測試過程中通過萬用表監控是否一致穩定輸出;
9、SF/DIAG/RUN/STOP指示燈:每隔1個小時通過程序設置這四個狀態,查看對應的指示燈是否能正常顯示。
10、其他輸入輸出指示燈:在測量數字量的過程中監控各個輸入輸出對應的LED指示燈。
11、撥碼開關:在測試開始于結束時,波動214-1BE的撥碼開關,查看RUN/STOP指示燈。
12、SDRAM、SRAM、EEPROM:在測試過程中使用程式監控。
7.測試結果簡敘
已測項目無失效。
8.測試順序
8.1.低溫運行
8.2.溫度沖擊
9.測試照片
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