x-ray膜厚測試儀是一部簡單、容易操作，且經濟實惠的測量儀器。大測量室可以測量大體積，不規則形狀的工件。DMC測量法能對測量距離修正，可以自動測量復雜的形狀，大的線路板也可輕易的放在測量頭及測量臺之間的槽進行測量。菲希爾x-ray膜厚測試儀配備微焦距XRAY管，四個電動移動準值器，尺寸為圓形直徑0.1MM；0.2MM；及方形的0.05MM*0.05MM；0.03MM*0.2MM，還有三個基本濾片選用，使光譜圈更合適分析，基本操作軟件WINFTM V6 LIGHT，可以同時間測量多至4層鍍層、或進行多至5元素的合金分析、又或是最多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。在不使用標準片做校正的情況下可達到一個相當不錯的測量結果。

x-ray膜厚測試儀只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

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