fischer 公司有著60多年對膜層厚度、微硬度及物料測量的經驗，HELMUT FISCHER公司不斷在基本原理上開發出創新的測量技術來解決一些新的檢測要求。為了不斷完善客戶的要求， fischer 公司推新立異，在測量膜厚方面，采用最新的FP數字計算方法，使測量數據更精確。

深圳膜厚儀/fischer膜厚儀/進口膜厚儀在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業,X-射線熒光鍍層厚度測量儀能夠測量包含原子序號17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。
A：區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多4層及24種元素。
B ：精確度領先于世界，精確到0.025mil
C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求,如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米

深圳膜厚儀/fischer膜厚儀/進口膜厚儀主要應用方面：
由于可測量的元素范圍拓闊至從鋁至鈾，X射線的應用范圍從工業應用伸展到科學應用。它可應用于治金學、地質學、鑒證學或自然科學等，在工業方面，廣泛用于五金電鍍、電子半導體、PCB線路、首飾珠寶、衛浴、汽配的成份分析和鍍層測量方面。