中科院“雙增益阿達瑪弱光光譜分析儀的研制”通過驗收

近日，中國科學院條件保障與財務局組織專家對中科院長春光機所應用光學國家重點實驗室吳一輝研究員承擔的“雙增益阿達瑪弱光光譜分析儀的研制”項目進行了現場技術測試和驗收。

項目組針對傳統光柵光譜儀普遍存在高分辨率和高光通量間的矛盾，提出二維阿達瑪變換陣列狹縫和光譜反演方法，實現了分辨率和靈敏度雙增益；提出反卷積、分段光譜定標等高精度光譜解碼技術等；研制出寬光譜范圍、高分辨率、高光通量、高信噪比阿達瑪光譜儀和具有批量化制作工藝技術的硅狹縫陣列芯片。該雙增益阿達瑪弱光光譜分析儀，相對孔徑f/5.6，像元光譜分辨率0.036nm，波長準確度±0.10nm，波長重復性0.05nm。相比國外同類儀器，如HORIBA公司、Princeton儀器等，國內北京卓立漢光，天津港東等，該設備的信噪比、波長準確度、光譜重復性幾個性能指標優于國內外同類產品，可有望填補國內弱光光譜分析儀研制領域的空白。

該光譜儀有望為生物樣品高靈敏度、高分辨率無標檢測譜分析提供更有力的工具，并可廣泛用于光電子、能源、化工、新材料和環境保護等領域。