開關(guān)電源設(shè)計(jì)知識(shí)-元器件可靠性問題
電子產(chǎn)品，特別是軍用穩(wěn)壓電源的設(shè)計(jì)是一個(gè)系統(tǒng)工程，不但要考慮電源本身參數(shù)設(shè) 計(jì)，還要考慮電氣設(shè)計(jì)、電磁兼容設(shè)計(jì)、熱設(shè)計(jì)、安全性設(shè)計(jì)、三防設(shè)計(jì)等方面。因?yàn)槿魏?方面那怕是最微小的疏忽，都可能導(dǎo)致整個(gè)電源的崩潰，所以我們應(yīng)充分認(rèn)識(shí)到電源產(chǎn)品可 靠性設(shè)計(jì)的重要性。
元器件可靠性問題即基本失效率的問題，這是一種隨機(jī)性質(zhì)的失效，與質(zhì)量問題的區(qū)別 是元器件的失效率取決于工作應(yīng)力水平。在一定的應(yīng)力水平下，元器件的失效率會(huì)大大下 降。為剔除不符合使用要求的元器件，包括電參數(shù)不合格、密封性能不合格、外觀不合格、 穩(wěn)定性差、早期失效等，應(yīng)進(jìn)行篩選試驗(yàn)，這是一種非破壞性試驗(yàn)。通過篩選可使元器件失 效率降低1～2個(gè)數(shù)量級(jí)，當(dāng)然篩選試驗(yàn)代價(jià)(時(shí)間與費(fèi)用)很大，但綜合維修、后勤保障、整 架聯(lián)試等還是合算的，研制周期也不會(huì)延長。電源設(shè)備主要元器件的篩選試驗(yàn)一般要求：
①電阻在室溫下按技術(shù)條件進(jìn)行100％測(cè)試，剔除不合格品。
②普通電容器在室溫下按技術(shù)條件進(jìn)行100％測(cè)試，剔除不合格品。
③接插件按技術(shù)條件抽樣檢測(cè)各種參數(shù)。
④半導(dǎo)體器件按以下程序進(jìn)行篩選：
目檢→初測(cè)→高溫貯存→高低溫沖擊→電功率老化→高溫測(cè)試→低溫測(cè)試→常溫測(cè)試
篩選結(jié)束后應(yīng)計(jì)算剔除率Q
Q=(n / N)×100%
式中：N——受試樣品總數(shù)；
n——被剔除的樣品數(shù)；
如果Q超過標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的上限值，則本批元器件全部不準(zhǔn)上機(jī)，并按有關(guān)規(guī)定處理。
在符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定時(shí)，則將篩選合格的元器件打漆點(diǎn)標(biāo)注，然后入專用庫房供裝機(jī)使用。
元器件可靠性問題即基本失效率的問題，這是一種隨機(jī)性質(zhì)的失效，與質(zhì)量問題的區(qū)別 是元器件的失效率取決于工作應(yīng)力水平。在一定的應(yīng)力水平下，元器件的失效率會(huì)大大下 降。為剔除不符合使用要求的元器件，包括電參數(shù)不合格、密封性能不合格、外觀不合格、 穩(wěn)定性差、早期失效等，應(yīng)進(jìn)行篩選試驗(yàn)，這是一種非破壞性試驗(yàn)。通過篩選可使元器件失 效率降低1～2個(gè)數(shù)量級(jí)，當(dāng)然篩選試驗(yàn)代價(jià)(時(shí)間與費(fèi)用)很大，但綜合維修、后勤保障、整 架聯(lián)試等還是合算的，研制周期也不會(huì)延長。電源設(shè)備主要元器件的篩選試驗(yàn)一般要求：
①電阻在室溫下按技術(shù)條件進(jìn)行100％測(cè)試，剔除不合格品。
②普通電容器在室溫下按技術(shù)條件進(jìn)行100％測(cè)試，剔除不合格品。
③接插件按技術(shù)條件抽樣檢測(cè)各種參數(shù)。
④半導(dǎo)體器件按以下程序進(jìn)行篩選：
目檢→初測(cè)→高溫貯存→高低溫沖擊→電功率老化→高溫測(cè)試→低溫測(cè)試→常溫測(cè)試
篩選結(jié)束后應(yīng)計(jì)算剔除率Q
Q=(n / N)×100%
式中：N——受試樣品總數(shù)；
n——被剔除的樣品數(shù)；
如果Q超過標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的上限值，則本批元器件全部不準(zhǔn)上機(jī)，并按有關(guān)規(guī)定處理。
在符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定時(shí)，則將篩選合格的元器件打漆點(diǎn)標(biāo)注，然后入專用庫房供裝機(jī)使用。
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