技術(shù)頻道

      LabWindows/CVI在汽車電噴模塊檢測中的應(yīng)用


      作者: 張明
      職務(wù): 測試工程師
      公司: MOTOROLA(中國)電子有限公司
      應(yīng)用領(lǐng)域:產(chǎn)品測試

      使用產(chǎn)品:LabWindows/CVI,NI 5112,PXI 8156B,NI 5411,PXI 6070E,NI 2503
      挑戰(zhàn):開發(fā)功能強(qiáng)大,界面友好的汽車電噴模塊測試系統(tǒng),并完成對(duì)測試結(jié)果的存儲(chǔ)及判斷。

      應(yīng)用方案
      使用NI公司的Labwindows軟件和相應(yīng)的硬件設(shè)施,完成對(duì)汽車電噴模塊(EFI)輸入/輸出口的硬件測試,并將測試數(shù)據(jù)生成TXT文件存盤。 同時(shí)通過編程完成對(duì)設(shè)定 工況下模塊的功能測試確保產(chǎn)品的可靠性。

      介紹
      EFI模塊測試系統(tǒng)包括:NI測試儀,模擬負(fù)載箱,電源,條碼掃描和測試夾具五部分組成。測試人員手動(dòng)將模塊放入夾具,并將條碼掃描以后,系統(tǒng)將自動(dòng)執(zhí)行模塊功耗、輸入端對(duì)地電阻、A/D采樣值、輸出端漏電流、FET鉗位電壓、E2PROM校驗(yàn)等多項(xiàng)檢驗(yàn)。同時(shí)記錄檢測數(shù)據(jù)及通過/失敗狀態(tài),并將數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)為TXT文件用于將來的數(shù)據(jù)分析。

      系統(tǒng)描述
      圖一: EFI 測試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)
      它包括NI測試儀(CPU,DAQ,OSC,WAVEFORM GENERATE,MATRIX SWITCH)
      模擬負(fù)載箱,電源,條碼掃描和測試夾具五部分組成 。
      模塊的檢測包括輸入口硬件,輸出口硬件及特定工況下的功能檢測三部分。 為完成輸入端口的硬件檢測, 我們選用了 PXI-6070E多功能卡進(jìn)行數(shù)據(jù)采集, 它有64路12位模擬量輸入,2路 模擬量輸出,及八條數(shù)字 I/0 。端口切換選用了NI-2503 開關(guān)卡,它是雙線24位開關(guān)卡負(fù)責(zé)將被測試端口與采集卡 PXI-6070E 相連。
      同樣對(duì)輸出端的硬件切換 由另一塊NI-2503卡完成。數(shù)據(jù)采集使用NI-5112 示波 器卡完成。它的100MHz頻寬可以確保對(duì) 點(diǎn)火及 噴油脈沖的采集。采集到 數(shù)據(jù) 將會(huì)放到指定的緩沖區(qū)中,通過進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,我們就可以得到輸 出信號(hào)脈沖 的最大值及頻率值。
      完成硬件的檢測后,同樣利用 BOOTSTRAP 模式, 將標(biāo)定數(shù)據(jù)送入模塊E2PROM中, 然后將 芯片切換到單片模式。模擬正常工況檢測模塊工作 狀態(tài),完成特定 工況下的功能檢測.。通過以上的測試,確保了模塊的可靠性。.

      2. 軟件設(shè)計(jì)
      在擁有計(jì)算機(jī)及相應(yīng)硬件卡的環(huán)境下, Labwindows以其基于C語言的開發(fā)環(huán)境,良好的用戶界面(GUI),強(qiáng)大的庫函數(shù),和方便快捷的調(diào)試手段,使設(shè)計(jì)者能以最快的速度設(shè)計(jì),調(diào)試和開發(fā)實(shí)際的測試系統(tǒng)。在設(shè)計(jì)本測試系統(tǒng)時(shí)我選用了NI 公司 Labwindows 其良好的用戶界面大大 降低了工作量。

      圖二LABWINDOWS良好的用戶界面


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      模塊檢測系統(tǒng)軟件可以工作在三種模式下:
      A. 硬件診斷模式
      B. 功能測試模式
      C. EOL測試模式
      對(duì)輸入端口的硬件檢測我們可以通過調(diào)用NI-2503,NI5112及PXI-6070E的 驅(qū)動(dòng)函數(shù), 非常方便地完成。
      芯片的A/D采樣值及輸出端口的硬件檢測需要下載專用測試程序(使用匯編語言編寫約1K)。利用軟件編程, 首先進(jìn)入68HC11的BOOTSTRAP模式, 然后將專用測試程序下載到芯片。通過調(diào)用專用測試程序的子程序,我們可以完成包括讀/寫芯片RAM,E2PROM區(qū),校驗(yàn)RAM,E2PORM區(qū),A/D采樣值讀取,設(shè)定PWM輸出脈沖,校驗(yàn)版本號(hào)等多項(xiàng)功能。
      功能測試是使芯片工作在單片模式,通過調(diào)用NI-5411任意波型發(fā)生器驅(qū)動(dòng)函數(shù) 來模擬轉(zhuǎn)速信號(hào)的60-2波型,同時(shí)輸入 相應(yīng)的電壓信號(hào)模擬各傳感器信號(hào)輸
      入 , 完成特定工況下的功能測試。
      所有測試結(jié)果將會(huì)存入到指定的文件中,用于統(tǒng)計(jì)CPK及數(shù)據(jù)分析。

      圖三軟件測試流程圖( 略 )

      結(jié)論
      使用LABWINDOWS軟件開發(fā)的測試系統(tǒng)具有以下顯著優(yōu)點(diǎn):
      1. 加快了系統(tǒng)的開發(fā)周期,降低了開發(fā)難度,使用Labwindows可以方便地調(diào)用硬件驅(qū)動(dòng)程序及功能函數(shù),降低了工作強(qiáng)度,加速開發(fā)進(jìn)程。
      2. 減少了測試周期,使用Labwindows,使數(shù)據(jù)傳輸速度及測量時(shí)間得到提高,,減少了產(chǎn)品的測量時(shí)間,每個(gè)模塊的測量時(shí)間小于50S。
      3. 具有很高的通用性,使用相同的硬件環(huán)境,僅對(duì)軟件進(jìn)行微調(diào), 就可以測量ECS, DIS 等系列產(chǎn)品。

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